tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 18 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 0 - 20 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 8pin, SOP8, 652C0082211W
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652C0082211W
Dostępna ilość: 48 (szt.)
55,00 zł netto / szt.
67,65 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
Dostępna ilość: 21 (szt.)
46,20 zł netto / szt.
56,83 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
